compact view print

Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем

author
Rätsep, Ülo
source
Методы обработки и регистрации сигналов
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1981
pages
с. 53-58
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 521
Радиотехника ; 9
series variant title
TPI Toimetised ; 521
Труды ТПИ ; 521
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
notes
Библиогр. : 5 назв
language
vene
Рятсеп, Ю.П. Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем // Методы обработки и регистрации сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1981. с. 53-58. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 521, Радиотехника ; 9).