Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем
author
statement of authorship
Ю.П. Рятсеп
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 53-58 : илл
series
series variant title
url
subject term
TalTech subject term
ISSN
0136-3549
0320-3441
notes
Библиогр. : 5 назв
Summary: Evaluation of influence of the plant environment parameters on the quality of integrated circuits
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
TalTech department
language
vene
Рятсеп, Ю.П. Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем // Методы обработки и регистрации сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1981. с. 53-58 : илл. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 521, Радиотехника ; 9). https://www.ester.ee/record=b1507633*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/b58bba27-822f-44c3-8387-50d8a26bb3d3