Измерение СВЧ фотопроводимости в материалах с высокой проводимостью
statement of authorship
Х.Э. Валласте, Э.Я. Мелликов, Т.А. Тувике, Ы.В. Палмре
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 57-63 : ил
series
series variant title
url
ISSN
0136-3549
0320-3395
notes
Библиогр. : 7 назв
Abstract: Microwave conductivity measurements in highly conductive materials
scientific publication
teaduspublikatsioon
TalTech department
language
vene
subject term
TalTech subject term
classifier
Валласте, Х.Э., Мелликов, Э.Я., Тувике, Т.А., Палмре, Ы.В. Измерение СВЧ фотопроводимости в материалах с высокой проводимостью // Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1986. с. 57-63 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620, Полупроводниковые материалы ; 7).