compact view print

Измерение СВЧ фотопроводимости в материалах с высокой проводимостью

author
Vallaste, Heikki
Mellikov, Enn
Tuvike, Tiit
Palmre, Õie
statement of authorship
Х.Э. Валласте, Э.Я. Мелликов, Т.А. Тувике, Ы.В. Палмре
source
Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1986
pages
с. 57-63 : ил
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620
Полупроводниковые материалы ; 7
series variant title
TPI Toimetised ; 620
Труды ТПИ ; 620
url
https://www.ester.ee/record=b1296001*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/65e24755-71eb-4a99-b9fe-e1308121ed89
subject term
mikrolained
fotojuhtivus
optoelektroonika
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
0320-3395
notes
Библиогр. : 7 назв
Abstract: Microwave conductivity measurements in highly conductive materials
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
füüsikalise keemia kateeder
language
vene
Валласте, Х.Э., Мелликов, Э.Я., Тувике, Т.А., Палмре, Ы.В. Измерение СВЧ фотопроводимости в материалах с высокой проводимостью // Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1986. с. 57-63 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620, Полупроводниковые материалы ; 7). https://www.ester.ee/record=b1296001*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/65e24755-71eb-4a99-b9fe-e1308121ed89