compact view print

Измерение параметров аналоговых микросборок применением компенсационного метода

author
Laansoo, Ants
Männama, Vello
Pikkov, Otto
statement of authorship
А. Лаансоо, В. Мяннама, О. Пикков
source
Машинное проектирование электронных устройств и систем
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1988
pages
с. 105-112 : ил
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института = Transactions of Tallinn Technical University ; 674
Электротехника и автоматика ; 35
series variant title
TPI Toimetised ; 674
Труды ТПИ ; 674
url
https://www.ester.ee/record=b1256708*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/2e6337b1-2222-4e66-98fb-89178f835390
subject term
seadmed
mikroskeemid
testimine
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
3134-3823
notes
Библиогр. : 4 назв
Abstract: Measuring parameters of the analog microcircuits using the compensational method
Kokkuvõte: Analoog-mikroskeemide parameetrite mõõtmine kompensatsioonmeetodiga
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
elektroonika kateeder
language
vene
Лаансоо, А., Мяннама, В., Пикков, О. Измерение параметров аналоговых микросборок применением компенсационного метода // Машинное проектирование электронных устройств и систем. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1988. с. 105-112 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института = Transactions of Tallinn Technical University ; 674, Электротехника и автоматика ; 35). https://www.ester.ee/record=b1256708*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/2e6337b1-2222-4e66-98fb-89178f835390