Анализ методов тестирования микропроцессоров
author
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 53-62
series
series variant title
TPI Toimetised ; 530
Труды ТПИ ; 530
notes
Библиогр. : 13 назв
language
vene
subject term
TTÜ subject term
Тоомсалу, А.К.-Ф. Анализ методов тестирования микропроцессоров // Синтез и диагностика цифровых устройств и систем. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1982. с. 53-62. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 530, Электротехника и автоматика ; 19).