Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams
author
statement of authorship
Raimund Ubar
source
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика
journal volume number month
Но. 3
year of publication
pages
p. 99-113 : ill
ISSN
1998-8605
notes
Bibliogr.: 49 ref
Kokkuvõte: Влияние неисправностей цифровых систем на топологию решающих диаграмм низкого и высокого уровней
language
inglise
subject term
keyword
binary decision diagrams (BDD)
structurally synthesized BDD (SSBDD)
shared SSBDD (SSSBDD)
high level DD (HLDD)
test generation and fault diagnosis
TalTech department
Ubar, R. Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика (2014) Но. 3, p. 99-113 : ill.