Design obfuscation versus test
autor
Farahmandi, Farimah
Sinanoglu, Ozgur
Blanton, Ronald
Pagliarini, Samuel Nascimento
vastutusandmed
Farimah Farahmandi, Ozgur Sinanoglu, Ronald Blanton, Samuel Pagliarini
allikas
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2020
leheküljed
10 p
konverentsi nimetus, aeg
2020 IEEE European Test Symposium (ETS), 25-29 May 2020
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590
märksõna
digitaalintegraallülitused
testimine
VLSI-ahelad
raalprojekteerimine
võtmesõna
logic locking
logic obfuscation
integrated circuit design
test
automatic test pattern generation
high level synthesis
ISBN
978-1-7281-4312-5
märkused
Bibliogr.: 41 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Riistvara turvalisuse keskus