Automated design error debug using high-level decision diagrams and mutation operators
autor
vastutusandmed
Jaan Raik, Urmas Repinski, Anton Chepurov, Hanno Hantson, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 37, 4-5
ilmumisaasta
leheküljed
p. 505-513 : ill
konverentsi nimetus, aeg
28th NORCHIP Conference, November 15-16, 2010
konverentsi toimumispaik
Tampere, Finland
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 29 ref
Special issue on NORCHIP 2012
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
klassifikaator
kvartiil
TTÜ struktuuriüksus
Raik, J., Repinski, U., Tšepurov, A., Hantson, H., Ubar, R., Jenihhin, M. Automated design error debug using high-level decision diagrams and mutation operators // Microprocessors and microsystems (2013) Vol. 37, 4-5, p. 505-513 : ill.