High-level path activation technique to speed up sequential circuit test generation
autor
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
European Test Workshop 1999 : proceedings, May 25-28, 1999, Constance, Germany
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society Press
ilmumisaasta
1999
leheküljed
p. 84-89 : ill
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/804289
märksõna
elektriahelad
rikked
testimine
simulatsioon
järjendanalüüs
ISBN
0-7695-0390-X
märkused
Bibliogr.: 12 ref
keel
inglise