Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний
autor
vastutusandmed
Ю.П. Рятсеп, Дж.-Т.Э. Тээвет
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
с. 39-43
seeria-sari
seeria variantpealkiri
leitav
ISSN
0136-3549
0320-3441
märkused
Библиогр. : 4 назв
Summary: A research method for integrated circuits production process, based on condition clusters analysis
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
vene
klassifikaator
Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э. Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний // Методы и средства обработки сигналов при наличии шумов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1982. с. 39-43. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 540, Радиотехника ; 10).