kompaktne vaade prindi

Techniques for reliability in Edge-AI chips

autor
Jenihhin, Maksim
Taheri, Mahdi
Cherezova, Natalia
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
Rafiq, Ahsan
Raik, Jaan
Daneshtalab, Masoud
vastutusandmed
M. Jenihhin, M. Taheri, N. Cherezova, M.H. Ahmadilivani, A. Rafiq, J. Raik, M. Daneshtalab
allikas
IEEE Top Picks in Test and Reliability Workshop at the International Test Conference 2024, San Diego, US, November 7-8, 2024
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2024
leheküljed
p. 1-2
konverentsi nimetus, aeg
IEEE Top Picks in Test and Reliability Workshop at the International Test Conference 2024, November 7-8, 2024
konverentsi toimumispaik
San Diego, US
leitav
https://people.rennes.inria.fr/Marcello.Traiola/TPTR2024/event_program.html
märksõna
tehisintellekt
integraallülitused
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.4
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Jenihhin, M., Taheri, M., Cherezova, N., Ahmadilivani, M.H., Rafiq, A., Raik, J., Daneshtalab, M. Techniques for reliability in Edge-AI chips // IEEE Top Picks in Test and Reliability Workshop at the International Test Conference 2024, San Diego, US, November 7-8, 2024. Piscataway, New Jersey : IEEE, 2024. p. 1-2. https://people.rennes.inria.fr/Marcello.Traiola/TPTR2024/event_program.html