Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
autor
Oyeniran, Adeboye Stephen
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
p. 82-87 : ill
konverentsi nimetus, aeg
27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, October 6-9, 2019
konverentsi toimumispaik
Cusco, Peru
leitav
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
märksõna
mikroprotsessorid
testimine
rikked
tarkvara
võtmesõna
microprocessor testing
high-level functional fault model
test generation
high-level fault coverage
fault redundancy
ISSN
2324-8440
2324-8432
ISBN
978-1-7281-3915-9
978-1-7281-3916-6
märkused
Bibliogr.: 34 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise