Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuits
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Jürimägi, Lembit
Orasson, Elmet
Josifovska, Galina
Oyeniran, Adeboye Stephen
vastutusandmed
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Elmet Orasson, Galina Josifovska, Stephen Adeboye Oyeniran
allikas
DSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
Conference Publishing Services
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 700-705 : ill
konverentsi nimetus, aeg
18th Euromicro Conference on Digital Systems Design, 26-28 August, 2015
konverentsi toimumispaik
Funchal, Madeira, Portugal
märksõna
digitaaltehnika
diagnostika (tehnika)
rikked
võtmesõna
combinational circuits
fault collapsing
fault equivalence and dominance
Binary Decision Diagrams
ISBN
978-1-4673-8035-5
märkused
Bibliogr.: 30 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise