Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault equivalence and dominance (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/105)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Josifovska, Galina
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
DSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal
2015
/
p. 700-705 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Fault collapsing in digital circuits using fast fault dominance and equivalence analysis with SSBDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015 Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
2016
/
p. 23-45 : ill
https://doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0_2
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
3
artikkel kogumikus
Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea
2015
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
105
1.
fault equivalence and dominance
2.
abuse of dominance
3.
collective dominance
4.
dominance
5.
dominance ratio
6.
national provision prohibiting abuses of dominance
7.
contextual equivalence
8.
equivalence ratio
9.
equivalence relations
10.
functional equivalence principle
11.
input-output equivalence transformations
12.
program equivalence
13.
state equivalence
14.
transfer equivalence
15.
asynchronous fault detection
16.
automatic fault diagnosis
17.
bearing fault diagnosis
18.
bi-directional fault monitoring devices
19.
conditional fault collapsing
20.
control fault models
21.
critical path fault tracing
22.
cross-layer fault tolerance
23.
cross-layered fault management
24.
extended fault class
25.
fault currents
26.
fault analysis
27.
fault analysis model
28.
fault classification
29.
fault classification
30.
fault collapsing
31.
fault compensation
32.
fault coverage
33.
fault current and voltage measurements
34.
Fault current limite
35.
fault current limiter
36.
fault detection
37.
fault detection and diagnoses
38.
fault detection and diagnosis
39.
fault diagnosis
40.
fault diagnostic
41.
fault diagnostic resolution
42.
fault diagnostics
43.
fault dignosis
44.
fault effects
45.
fault emulation
46.
fault handling
47.
fault handling strategy
48.
fault indicator
49.
fault injection
50.
Fault Injection Simulation
51.
fault Interruption
52.
fault localization
53.
fault location
54.
fault management
55.
fault masking
56.
fault modeling
57.
fault models
58.
fault monitoring
59.
fault prediction
60.
fault protection
61.
fault redundancy
62.
fault resilience
63.
fault ride through
64.
Fault ride through enhancement
65.
fault signal
66.
fault simulastion
67.
fault simulation
68.
fault simulation with critical path tracing
69.
fault tolerance
70.
fault tolerant
71.
fault tolerant control
72.
fault tolerant operation
73.
fault tolerant router design
74.
fault tolerant systems
75.
fault tree analysis
76.
fault-injection attack
77.
fault-plane solution
78.
fault-resilience
79.
fault-resistant
80.
fault-ride-through (FRT)
81.
fault-tolerance
82.
fault-tolerant
83.
Fault-tolerant (FT) converters
84.
fault-tolerant control
85.
fault-tolerant converter
86.
functional fault model
87.
high-level control fault model
88.
high-level fault coverage
89.
high-level fault model
90.
high-level fault simulation
91.
high-level functional fault model
92.
Katun fault
93.
low-level fault redundancy
94.
no fault found
95.
No-Fault-Found
96.
open circuit fault
97.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
98.
parallel fault-simulation
99.
short circuit fault
100.
spectrum-based fault localization
101.
stacking fault
102.
stuck-at fault model
103.
test generation and fault diagnosis
104.
transient fault mitigation
105.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT