Statistical Analysis-Based Feature Selection for Anomaly Detection in AIS Dataset
vastutusandmed
Gabor Visky, Risto Vaarandi, Sokratis Katsikas, Olaf Maennel
allikas
2025 IEEE 23rd World Symposium on Applied Machine Intelligence and Informatics (SAMI)
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 000159-000164
konverentsi nimetus, aeg
2025 IEEE 23rd World Symposium on Applied Machine Intelligence and Informatics (SAMI), 23-25 Jan. 2025
konverentsi toimumispaik
Stará Lesná, Slovakia
ISSN
2767-9438
ISBN
979-8-3503-7936-5
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
klassifikaator
Visky, G., Vaarandi, R., Katsikas, S., Maennel, O. Statistical Analysis-Based Feature Selection for Anomaly Detection in AIS Dataset // 2025 IEEE 23rd World Symposium on Applied Machine Intelligence and Informatics (SAMI). : IEEE, 2025. p. 000159-000164.