Fast identification of true critical paths in sequential circuits
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Jürimägi, Lembit
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Lembit Jürimägi
allikas
Microelectronics reliability
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 81
ilmumisaasta
2018
leheküljed
p. 252-261 : ill
leitav
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027
märksõna
elektronlülitused
rikked
testimine
võtmesõna
timing-critical path
gate-level analysis
NBTI
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 24 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/26717
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85041489163&origin=inward&txGid=8f2d9e894f22f2945d867ef5424f7212
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=MICROELECTRON%20RELIAB&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000425576300030
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
Physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia
Materials science
Materjaliteadus
kategooria (alam)
Engineering. Safety, risk, reliability and quality
Tehnika. Ohutus, risk, töökindlus ja kvaliteet
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
Physics and astronomy. Condensed matter physics
Füüsika ja astronoomia. Kondenseeritud aine füüsika
Materials science. Surfaces, coatings and films
Materjaliteadus. Pinnad, katted ja kiled
Physics and astronomy. Atomic and molecular physics, and optics
Füüsika ja astronoomia. Aatomi- ja molekulaarfüüsika ning optika
Materials science. Electronic, optical and magnetic materials
Materjaliteadus. Elektroonilised, optilised ja magnetilised materjalid
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus