täiskirje prindi

Исследование стойкости силовых транзисторов к вторичному пробою

autor
vastutusandmed
К.К. Кыверик, А.Э. Ярвальт
allikas
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
с. 75-84 : ил
seeria-sari
seeria variantpealkiri
leitav
ISSN
0136-3549
3134-3823
märkused
Библиогр. : 8 назв
Summary: Secondary breakdown limitations of biopolar power transistors
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
vene
Кыверик, К.Х., Ярвальт, А.Э. Исследование стойкости силовых транзисторов к вторичному пробою // Расчет и проектирование измерительных преобразователей. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1983. с. 75-84 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 558, Электротехника и автоматика ; 24). https://www.ester.ee/record=b1288985*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/4e3815a3-f217-4ae2-9776-1b5ea3c25959