full record print

Исследование стойкости силовых транзисторов к вторичному пробою

author
statement of authorship
К.К. Кыверик, А.Э. Ярвальт
source
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 75-84 : ил
series
series variant title
url
ISSN
0136-3549
3134-3823
notes
Библиогр. : 8 назв
Summary: Secondary breakdown limitations of biopolar power transistors
scientific publication
teaduspublikatsioon
TalTech department
language
vene
Кыверик, К.Х., Ярвальт, А.Э. Исследование стойкости силовых транзисторов к вторичному пробою // Расчет и проектирование измерительных преобразователей. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1983. с. 75-84 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 558, Электротехника и автоматика ; 24). https://www.ester.ee/record=b1288985*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/4e3815a3-f217-4ae2-9776-1b5ea3c25959