Keynote: cost-efficient reliability for Edge-AI chips
autor
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Mahdi Taheri, Natalia Cherezova, Mohammad Hasan Ahmadilivani, Hardi Selg, Artur Jutman
allikas
2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS)
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
konverentsi nimetus, aeg
25th IEEE Latin American Test Symposium, LATS 2024, 9-12 April 2024
konverentsi toimumispaik
Maceio, Brazil
ISBN
979-835036555-9
märkused
Bibliogr.: 13 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
Scopus
klassifikaator
Jenihhin, M., Taheri, M., Cherezova, N., Ahmadilivani, M.H., Selg, H., Jutman, A., Shibin, K., Tsertov, A., Devadze, S., Kodamanchili, R.M., Rafiq, A., Raik, J., Daneshtalab, M. Keynote: cost-efficient reliability for Edge-AI chips // 2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS). Piscataway, New Jersey : IEEE, 2024.