Zagursky, V., Gertners, A. - TalTech teadusportaal

Testing technique for embedded ADC

autor

Zagursky, V.

Gertners, A.

vastutusandmed

V.Zagursky, A.Gertners

allikas

BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings

ilmumiskoht

[Tallinn]

kirjastus/väljaandja

Tallinn University of Technology

ilmumisaasta

1998

leheküljed

p. 167-170: ill

märksõna

analoog-digitaal muundurid

manussüsteemid

testimine

ISBN

9985-59-081-3

märkused

Bibl.: 6 ref

keel

inglise

Zagursky, V., Gertners, A. Testing technique for embedded ADC // BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings. [Tallinn] : Tallinn University of Technology, 1998. p. 167-170: ill.