Conducted EMI emission evaluation considerations for test site and in-situ evaluation of DC microgrid supplied power converters
autor
vastutusandmed
Lauri Kütt, Kamran Daniel, Hetal Sharma, Martin Parker, Andrii Chub
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
5 p
konverentsi nimetus, aeg
7th IEEE International Conference on DC Microgrids (ICDCM 2025), June 4 - 6, 2025
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
ISBN
979-8-3315-1275-0
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
English
märksõna
võtmesõna
direct current microgrid
line impedance stabilization network
klassifikaator
Kütt, L., Daniel, K., Sharma, H., Parker, M., Chub, A. Conducted EMI emission evaluation considerations for test site and in-situ evaluation of DC microgrid supplied power converters // 2025 IEEE Seventh International Conference on DC Microgrids (ICDCM). Tallinn : IEEE, 2025. 5 p. http://doi.org/10.1109/ICDCM63994.2025.11144729