Govind, V., Raik, J., Ubar, R. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip

autor

Govind, Vineeth

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Vineeth Govind, Jaan Raik, Raimund Ubar

allikas

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja

ilmumiskoht

[Tallinn

kirjastus/väljaandja

TTÜ kirjastus]

ilmumisaasta

2008

leheküljed

p. 25-28 : ill

ISBN

978-9985-59-782-8

märkused

Bibliogr.: 5 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

kiipvõrgud

testimine

Govind, V., Raik, J., Ubar, R. DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja. [Tallinn : TTÜ kirjastus], 2008. p. 25-28 : ill.