DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip
statement of authorship
Vineeth Govind, Jaan Raik, Raimund Ubar
location of publication
[Tallinn
publisher
year of publication
pages
p. 25-28 : ill
ISBN
978-9985-59-782-8
notes
Bibliogr.: 5 ref
language
inglise
subject term
Govind, V., Raik, J., Ubar, R. DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja. [Tallinn : TTÜ kirjastus], 2008. p. 25-28 : ill.