print

DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip

author
Govind, Vineeth
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
statement of authorship
Vineeth Govind, Jaan Raik, Raimund Ubar
source
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
location of publication
[Tallinn
publisher
TTÜ kirjastus]
year of publication
2008
pages
p. 25-28 : ill
subject term
kiipvõrgud
testimine
ISBN
978-9985-59-782-8
notes
Bibliogr.: 5 ref
language
inglise
Govind, V., Raik, J., Ubar, R. DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja. [Tallinn : TTÜ kirjastus], 2008. p. 25-28 : ill.