Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms
autor
Ivask, Eero
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
E.Ivask, R.Ubar, J.Raik
allikas
IEEE European Test Workshop
ilmumiskoht
Cascais
ilmumisaasta
2000
leheküljed
p. 319-320
märksõna
elektriahelad
testimine
algoritmid
vead
keel
inglise