Teaching advanced test issues in digital electronics
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Orasson, Elmet
Raik, Jaan
Wuttke, Heinz-Dietrich
vastutusandmed
Raimund Ubar, Elmet Orasson, Jaan Raik, Heinz-Dietrich Wuttke
allikas
Proceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2005
leheküljed
p. S2B-1 - S2B-6 : ill
konverentsi nimetus, aeg
6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training, July 7-9, 2005
konverentsi toimumispaik
Juan Dolio, Dominican Republic
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318
märksõna
digitaaltehnika
integraallülitused
testimine
e-õpe
audiovisuaalne õpe
võtmesõna
e-learning
digital electronics
living pictures
physical defects
test generation
ISBN
0-7803-9141-1
märkused
Biobliogr.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise