Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuits
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Jürimägi, Lembit
Orasson, Elmet
Raik, Jaan
vastutusandmed
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Elmet Orasson, Jaan Raik
allikas
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 171-176 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), October 5-7, 2015
konverentsi toimumispaik
Daejeon, Korea
märksõna
digitaaltehnika
elektronlülitused
rikked
diagnostika (tehnika)
algoritmid
võtmesõna
combinational circuits
fault collapsing
fault equivalence and dominance
Binary Decision Diagrams
lower and higher bounds
ISBN
978-1-4673-9140-5
märkused
Bibliogr.: 24 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise