Zeltinš, M., Slaidinš, I.* - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Measurement of transistor low frequency noise source parameters

autor

Zeltinš, M.

Slaidinš, I.

vastutusandmed

M.Zeltinš, I.Slaidinš

allikas

BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings

ilmumiskoht

[Tallinn]

ilmumisaasta

1996

leheküljed

p. 475-478: ill

ISBN

9985-59-026-0

märkused

Bibl. 4 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

transistorid

madalsagedusmüra

parameetrid

mõõtmine

Zeltinš, M., Slaidinš, I.* Measurement of transistor low frequency noise source parameters // BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings. [Tallinn], 1996. p. 475-478: ill.