Re-using chip level DFT at board level
autor
Gu, Xinli
Jutman, Artur
vastutusandmed
Xinli GU, ... Artur Jutman, ... [et al.]
allikas
Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th–June 1st, 2012, Annecy, France
ilmumiskoht
Los Alimitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2012
leheküljed
1 p
konverentsi nimetus, aeg
2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS),May 28th–June 1st, 2012
konverentsi toimumispaik
Annecy, France
võtmesõna
board test
board diagnosis
chip access
IEEE P1687
IEEE 1149.1
ISBN
978-1-4673-0697-3
keel
inglise