Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
board test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/145)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A new FPGA-based detection method for spurious variations in PCBA power distribution network
Odintsov, Sergei
;
Bozzoli, Ludovica
;
De Sio, Corrado
;
Sterpone, Luca
;
Jutman, Artur
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724662
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Re-using chip level DFT at board level
Gu, Xinli
;
Jutman, Artur
Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th–June 1st, 2012, Annecy, France
2012
/
1 p
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
143
1.
board test
2.
processor-centric board test
3.
Board and System Test
4.
board
5.
board composition
6.
board diagnosis
7.
board diversity
8.
board of directors
9.
Estonian Police and Border Guard Board (PPA)
10.
laminate embedded printed circuit board
11.
off-board charger
12.
on-board charger (OBC)
13.
processor-centric board
14.
single board computer
15.
accelerated shelf-life test
16.
adaptive test strategy generation
17.
antigen test
18.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
19.
automated test environment
20.
automated test pattern generation
21.
automatic test case generation
22.
automatic test pattern generation
23.
automatic test program generation
24.
Auvergne test-bed
25.
battery test
26.
behavioral test
27.
behaviour level test generation
28.
bending test
29.
bit-error rate test
30.
bounds test
31.
built-in self-test
32.
capillary condensation redistribution test
33.
chi-square test
34.
closed bottle test
35.
cognitive screening test
36.
compartment fire test
37.
compartment test
38.
cone penetration test (CPT)
39.
COVID-19 antigen test
40.
cutting test
41.
cybersecurity test bed
42.
DDR4 interconnect test
43.
design and test
44.
design-for-test
45.
deterministic test sequences
46.
diagnostic test
47.
digital test
48.
Digital test and testable design
49.
double-pulse test
50.
drawing test
51.
dry droplet antimicrobial test
52.
embedded test
53.
fan pressurisation test
54.
final test result prediction
55.
four-point bending test
56.
FPGA based test
57.
FPGA-Assisted Test
58.
FPGA-centric test
59.
functional self-test
60.
functional test generation
61.
Granger causality test
62.
hardness test
63.
high-level synthesis for test
64.
high-level test data generation
65.
highlevel test generation
66.
high-speed serial link test
67.
IEEE 9 bus test system
68.
implementation-independent test generation
69.
in situ tensile test in SEM
70.
industrial field test
71.
in-situ tensile test in SEM
72.
Johansen cointegration test
73.
Kolmogorov-Smirnov test
74.
load test
75.
logic built-in self-test
76.
Luria alternating series test
77.
Mann–Kendall test
78.
memory interconnect test
79.
microprocessor test
80.
Model test
81.
multiplier test
82.
offline test generation
83.
orthogonal test
84.
package test analysis
85.
parallel design and test
86.
performance test
87.
piezocone penetration test (CPTu)
88.
Point Load Test index
89.
pressurisation test
90.
progressive damage test
91.
provably correct test generation
92.
pseudo-exhaustive test
93.
purity test
94.
rtioco-based timed test sequences
95.
seasonal Mann Kendall test
96.
seismic piezocone penetration test
97.
self-test
98.
self-test architectures
99.
sentence writing test
100.
serial sevens test
101.
ship towing test tank
102.
similar material simulation test
103.
small‐scale test
104.
software based self-test
105.
software-based self-test
106.
software-based self-test (SBST)
107.
soil phosphorus (P) test
108.
standard test method
109.
static load test
110.
static-dynamic probing test (SDT)
111.
stress test
112.
system level test
113.
teaching design and test of systems
114.
tensile test
115.
test
116.
test and evaluation platform
117.
test bench
118.
test coverage
119.
test driven development
120.
test driven modelling
121.
test embankment
122.
test equipment
123.
test generation
124.
test generation and fault diagnosis
125.
test groups
126.
test model design
127.
test optimization
128.
test packets
129.
test path synthesis
130.
test patterns
131.
test point insertion
132.
test program generation
133.
test reference year
134.
test replication
135.
test scenario description language
136.
test-bed
137.
test-chips
138.
test-house
139.
test-pattern
140.
test-suite reduction
141.
Three-point bending test
142.
unit root test
143.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT