Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
board test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/144)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A new FPGA-based detection method for spurious variations in PCBA power distribution network
Odintsov, Sergei
;
Bozzoli, Ludovica
;
De Sio, Corrado
;
Sterpone, Luca
;
Jutman, Artur
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724662
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Re-using chip level DFT at board level
Gu, Xinli
;
Jutman, Artur
Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th–June 1st, 2012, Annecy, France
2012
/
1 p
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
142
1.
board test
2.
processor-centric board test
3.
Board and System Test
4.
board
5.
board composition
6.
board diagnosis
7.
board diversity
8.
board of directors
9.
Estonian Police and Border Guard Board (PPA)
10.
laminate embedded printed circuit board
11.
off-board charger
12.
on-board charger (OBC)
13.
processor-centric board
14.
single board computer
15.
accelerated shelf-life test
16.
adaptive test strategy generation
17.
antigen test
18.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
19.
automated test environment
20.
automated test pattern generation
21.
automatic test case generation
22.
automatic test pattern generation
23.
automatic test program generation
24.
Auvergne test-bed
25.
battery test
26.
behavioral test
27.
behaviour level test generation
28.
bending test
29.
bit-error rate test
30.
bounds test
31.
built-in self-test
32.
capillary condensation redistribution test
33.
chi-square test
34.
closed bottle test
35.
cognitive screening test
36.
compartment fire test
37.
compartment test
38.
cone penetration test (CPT)
39.
COVID-19 antigen test
40.
cutting test
41.
cybersecurity test bed
42.
DDR4 interconnect test
43.
design and test
44.
design-for-test
45.
deterministic test sequences
46.
diagnostic test
47.
digital test
48.
Digital test and testable design
49.
double-pulse test
50.
drawing test
51.
dry droplet antimicrobial test
52.
embedded test
53.
fan pressurisation test
54.
final test result prediction
55.
four-point bending test
56.
FPGA based test
57.
FPGA-Assisted Test
58.
FPGA-centric test
59.
functional self-test
60.
functional test generation
61.
Granger causality test
62.
hardness test
63.
high-level synthesis for test
64.
high-level test data generation
65.
highlevel test generation
66.
high-speed serial link test
67.
IEEE 9 bus test system
68.
implementation-independent test generation
69.
in situ tensile test in SEM
70.
industrial field test
71.
in-situ tensile test in SEM
72.
Johansen cointegration test
73.
Kolmogorov-Smirnov test
74.
load test
75.
logic built-in self-test
76.
Luria alternating series test
77.
Mann–Kendall test
78.
memory interconnect test
79.
microprocessor test
80.
Model test
81.
multiplier test
82.
offline test generation
83.
orthogonal test
84.
package test analysis
85.
parallel design and test
86.
performance test
87.
piezocone penetration test (CPTu)
88.
Point Load Test index
89.
pressurisation test
90.
progressive damage test
91.
provably correct test generation
92.
pseudo-exhaustive test
93.
purity test
94.
rtioco-based timed test sequences
95.
seasonal Mann Kendall test
96.
self-test
97.
self-test architectures
98.
sentence writing test
99.
serial sevens test
100.
ship towing test tank
101.
similar material simulation test
102.
small‐scale test
103.
software based self-test
104.
software-based self-test
105.
software-based self-test (SBST)
106.
soil phosphorus (P) test
107.
standard test method
108.
static load test
109.
static-dynamic probing test (SDT)
110.
stress test
111.
system level test
112.
teaching design and test of systems
113.
tensile test
114.
test
115.
test and evaluation platform
116.
test bench
117.
test coverage
118.
test driven development
119.
test driven modelling
120.
test embankment
121.
test equipment
122.
test generation
123.
test generation and fault diagnosis
124.
test groups
125.
test model design
126.
test optimization
127.
test packets
128.
test path synthesis
129.
test patterns
130.
test point insertion
131.
test program generation
132.
test reference year
133.
test replication
134.
test scenario description language
135.
test-bed
136.
test-chips
137.
test-house
138.
test-pattern
139.
test-suite reduction
140.
Three-point bending test
141.
unit root test
142.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT