Измерение параметров аналоговых микросборок применением компенсационного метода

vastutusandmed
А. Лаансоо, В. Мяннама, О. Пикков
ilmumiskoht
Таллин
ilmumisaasta
leheküljed
с. 105-112 : ил
ISSN
0136-3549
3134-3823
märkused
Библиогр. : 4 назв
Abstract: Measuring parameters of the analog microcircuits using the compensational method
Kokkuvõte: Analoog-mikroskeemide parameetrite mõõtmine kompensatsioonmeetodiga
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
vene
Лаансоо, А., Мяннама, В., Пикков, О. Измерение параметров аналоговых микросборок применением компенсационного метода // Машинное проектирование электронных устройств и систем. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1988. с. 105-112 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института = Transactions of Tallinn Technical University ; 674, Электротехника и автоматика ; 35). https://www.ester.ee/record=b1256708*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/2e6337b1-2222-4e66-98fb-89178f835390