European Test Symposium Teams: an anniversary snapshot

autor
Míclea, Liviu Cristian
Enyedi, Szilárd
Stefan, Iulia Adina
Stan, Ovidiu Petru
Corches, Cosmina
vastutusandmed
M. Jenihhin, J. Raik, A. Jutman, N. Cherezova, R. Ubar, L. Miclea, S. Enyedi, I. Stefan, O. Stan, C. Corches, Z. Peng, P. Eles, R. Drechsler, S. Eggersgluß, G. Fey, A. Glowatz, D. Tille, G. Gielen, A. Coyette, W. Dobbelaere, R. Vanhooren, P.-Y. Chuang, E. J. Marinissen, G. Di Natale, M. Barragan, P. Maistri, S. Mir, E.-I. Vatajelu, P. Bernardi, S. Di Carlo, P. Prinetto, M. Sonza Reorda, M. Violante, H.-G. Stratigopoulos, M. K. Michael, S. Neophytou, S. Hadjitheophanous, K. Christou, M. Skitsas, A. Bosio, B. Deveautour, P. Girard, M. Traiola, A. Virazel, F. Fernandes dos Santos, A. Kritikakou, G. Casagranda, M. Vallero, F. Vella, P. Rech, L. M. Bolzani Poehls, M. Krstic, M. Andjelkovic, F. Vargas, G. Tshagharyan, G. Harutyunyan, V. Vardanian, S. Shoukourian, Y. Zorian, J. Dworak, K. Nepal, T. Manikas, M. Taouil, M. Fieback, A. Gebregiorgis, R. Bishnoi, S. Hamdioui, A. Chatterjee, A. Saha, S. Komarraju, K. Ma, C. Amarnath, M. Tahoori, M. Mayahinia, M. Rajabalipanah, K. Basharkhah, N. Nosrati, Z. Jahanpeima, Z. Navabi, H.-J. Wunderlich, S. Hellebrand
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
48, p.
konverentsi nimetus, aeg
2025 IEEE European Test Symposium, ETS 2025, 26-30 May 2025
konverentsi toimumispaik
Tallinn
kategooria (üld)
võtmesõna
well testing
circuit testing
circuits and systems
electronics system
ISSN
1530-1877
ISBN
979-8-3315-9451-0
979-8-3315-9450-3
märkused
Bibliogr.: 105 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Jenihhin, M., Raik, J., Jutman, A., Cherezova, N., Ubar, R., Miclea, L., Enyedi, S., Stefan, I., Stan, O., Corches, C., Peng, Z., Eles, P. et al European Test Symposium Teams: an anniversary snapshot // 2025 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2025 : May 26-30, 2025, Tallinn, Estonia : proceedings. Piscataway : IEEE, 2025. 48, p.. https://doi.org/10.1109/ETS63895.2025.11049652