Yakushev, M.V., Maiello, P., Raadik, T., Krustok, J. et al.

täiskirje prindi

Electronic and structural characterisation of Cu3BiS3 thin films for the absorber layer of sustainable photovoltaics

autor

Yakushev, M.V.

Maiello, P.

Raadik, Taavi

Krustok, Jüri

vastutusandmed

M.V. Yakushev, P. Maiello, T. Raadik, ... J. Krustok, ... [et al.]

allikas

Thin solid films

kirjastus/väljaandja

Elsevier

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 562

ilmumisaasta

2014

leheküljed

p. 195-199 : ill

leitav

https://doi.org/10.1016/j.tsf.2014.04.057

ISSN

0040-6090

märkused

Bibliogr.: 29 ref

Open Access

teaduspublikatsioon

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

päikeseelemendid

õhukesed kiled

pooljuhtkiled

spektroskoopia

fotoluminestsents

võtmesõna

thin films

solar cells

semiconductors

electronic structure

Raman spectroscopy

photoreflectance

photoluminescence

Teaduspublikatsiooni meetrika

klassifikaator

1.1

Scopus

Journal metrics at Scopus

Article at Scopus

WOS

Journal metrics at WOS

Article at WOS

kvartiil

Kategooriad

kategooria (üld)

Materjaliteadus

Füüsika ja astronoomia

kategooria (alam)

Materjaliteadus. Metallid ja sulamid

Materjaliteadus. Pinnad, katted ja kiled

Materjaliteadus. Elektroonilised, optilised ja magnetilised materjalid

Materjaliteadus. Materjalide keemia

Füüsika ja astronoomia. Pinnad ja liidesed

TalTechi üksused

TTÜ struktuuriüksus

materjaliteaduse instituut

Yakushev, M.V., Maiello, P., Raadik, T., Krustok, J. et al. Electronic and structural characterisation of Cu3BiS3 thin films for the absorber layer of sustainable photovoltaics // Thin solid films (2014) Vol. 562, p. 195-199 : ill. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2014.04.057