Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional
                                            autor
                                    
                                    
                                
                                            vastutusandmed
                                    
                                    
Xinhui Lai, Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maksim Jenihhin, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Dan Alexandrescu
                                                    
                                            
                                            allikas
                                    
                                    
                                
                                            kirjastus/väljaandja
                                    
                                    
                                
                                            ajakirja aastakäik number kuu
                                    
                                    
vol. 71
                                                    
                                            
                                            ilmumisaasta
                                    
                                    
                                
                                            leheküljed
                                    
                                    
art. 102867, 13 p. : ill
                                                    
                                            
                                            ISSN
                                    
                                    
0141-9331
                                                    
                                            
                                            märkused
                                    
                                    
Bibliogr.: 86 ref
                                                    
                                            
                                            Open Access
                                    
                                    
Open Access
                                                    
                                            
                                            teaduspublikatsioon
                                    
                                    
teaduspublikatsioon
                                                    
                                            
                                            keel
                                    
                                    
inglise
                                                    
                                            
                                            klassifikaator
                                    
                                    
                                
                                            kvartiil
                                    
                                    
                                
                                            kategooria (üld)
                                    
                                    
                                
                                            TTÜ struktuuriüksus
                                    
                                    
                                - A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
 - Approaches to extra-functional verification of security and reliability aspects in hardware designs = Riistvaraprojektide turva- ja töökindlusaspektide ekstrafunktsionaalse verifitseerimise lähenemisviisid
 
                                    Lai, X., Balakrishnan, A., Lange, T., Jenihhin, M., Ghasempouri, T., Raik, J., Alexandrescu, D. Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional // Microprocessors and microsystems (2019) vol. 71, art. 102867, 13 p. : ill.  https://doi.org/10.1016/j.micpro.2019.102867