Off-line testing of crosstalk induced glitch faults in NoC Interconnects
vastutusandmed
Tomas Bengtsson, Shashi Kumar, Raimund Ubar, Artur Jutman
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 221-225 : ill
konverentsi nimetus, aeg
24th IEEE Norchip Conference, 20-21 November, 2006
konverentsi toimumispaik
Linköping, Sweden
märksõna
ISBN
1-4244-0772-9
märkused
Bibliogr.: 9 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Bengtsson, T., Kumar, S., Ubar, R.-J., Jutman, A. Off-line testing of crosstalk induced glitch faults in NoC Interconnects // Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006. [S.l.] : IEEE, 2006. p. 221-225 : ill.