SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulation

vastutusandmed
A.Udal and E.Velmre
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 37, 10/11
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1671-1674
ISSN
0026-2714
Open Access
Open Access
keel
inglise
Udal, A., Velmre, E. SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulation // Microelectronics reliability (1997) Vol. 37, 10/11, p. 1671-1674. https://doi.org/10.1016/S0026-2714(97)00136-4