Hierarchical identification of NBTI-critical gates in nanoscale logic
autor
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, ... [et al.]
allikas
LATW2014 : 15th IEEE Latin-American Test Workshop : Fortaleza, Brazil, March 12th-15th, 2014
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2014
leheküljed
[6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
15th IEEE Latin-American Test Workshop, March 12-15, 2014
konverentsi toimumispaik
Fortaleza, Brazil
märksõna
elektronlülitused
rikked
võtmesõna
NBTI-critical gate
critical path identification
static timing analysis
aging
logic circuit
ISBN
978-1-4799-4711-9
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise