At-speed testing of inter-die connections of 3D-SICs in the presence of shore logic
autor
vastutusandmed
Konstantin Shibin, Vivek Chickermane, Brion Keller, Christos Papameletis, Erik Jan Marinissen
allikas
2015 Asian Test Symposium : ATS 2015 : 22-25 November 2015, Mumbai, Maharashtra, India : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 79-84 : ill
konverentsi nimetus, aeg
24th Asian Test Symposium ATS 2015, 22-25 November, 2015
konverentsi toimumispaik
Mumbai, India
märksõna
ISBN
978-1-4673-9739-1
märkused
Bibliogr.: 26 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Shibin, K., Chickermane, V., Keller, B., Papameletis, C., Marinissen, E.J. At-speed testing of inter-die connections of 3D-SICs in the presence of shore logic // 2015 Asian Test Symposium : ATS 2015 : 22-25 November 2015, Mumbai, Maharashtra, India : proceedings. Los Alamitos : CPS, 2015. p. 79-84 : ill. http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2015.21