Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
physical defects (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/62)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
How to generate high quality tests for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aarna, Margit
;
Kruus, Helena
;
Raik, Jaan
2004 International Semiconductor Conference : 27th edition, October 4-6, 2004, Sinaia, Romania : CAS 2004 proceedings. Volume 2
2004
/
p. 459-462 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2004.1403048
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Teaching advanced test issues in digital electronics
Ubar, Raimund-Johannes
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Proceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic
2005
/
p. S2B-1 - S2B-6 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
62
1.
physical defects
2.
axial defects
3.
building defects
4.
critical-sized defects
5.
Deep defects
6.
defects
7.
insulation defects
8.
material defects
9.
non-defects
10.
pavement defects
11.
point defects
12.
radiation defects
13.
structural defects
14.
autonomous-semiautonomous mechanical physical systems
15.
cloud-based cyber-physical systems (C2PS)
16.
Cyber Bio-analytical Physical Systems (CBPSs)
17.
cyber physical energy systems
18.
cyber physical power system (CPPS)
19.
Cyber Physical Production System
20.
cyber physical production systems (CPPS)
21.
cyber physical social system
22.
cyber physical social systems (cpss)
23.
cyber physical system
24.
cyber-physical energy systems
25.
cyber-physical social system (CPSS)
26.
cyber-physical system
27.
Cyber-Physical System (CPS)
28.
cyber-physical system logistic robot
29.
cyber-physical systems
30.
Cyber-Physical Systems (CPS)
31.
fatty acid/physical chemistry
32.
fire-physical phenomenon
33.
impaired physical mobility
34.
mobile cyber-physical system
35.
oupled physical-biogeochemical modeling
36.
physical (PHY)
37.
physical activity
38.
physical activity classification
39.
physical and chemical processes
40.
physical asset management
41.
physical chemistry
42.
physical condition
43.
physical control channels
44.
physical design
45.
physical education
46.
physical experiment
47.
physical factors
48.
physical fatigue
49.
physical health
50.
physical layer
51.
physical mechanisms
52.
physical modeling
53.
physical overload
54.
physical overload disease
55.
physical properties
56.
physical unclonable function
57.
physical vapor deposition
58.
physical variations
59.
respect for the physical integrity
60.
Socio-Cyber-Physical Systems
61.
soil physical properties
62.
the accurate registration of the physical values
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT