prindi

BASTION : board and SoC test instrumentation for ageing and no failure found

autor
Jutman, Artur
Lotz, Christophe
Larsson, Erik
Sonza Reorda, Matteo
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Artur Jutman, Christophe Lotz, Erik Larsson, Matteo Sonza Reorda, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Hans Kerkhoff, Rene Krenz-Baath, and Piet Engelke
allikas
Proceedings of the 2017 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 27-31 March 2017, Swisstech, Lausanne, Switzerland
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2017
leheküljed
p. 115-120 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2017 Design, Automation & Test in Europe (DATE), 27-31 March, 2017
konverentsi toimumispaik
Lausanne, Switzerland
leitav
https://doi.org/10.23919/DATE.2017.7926968
märksõna
elektroonikakomponendid
rikked
diagnostika (tehnika)
koostööprojektid
rahvusvaheline koostöö
võtmesõna
No-Fault-Found
No-Trouble-Found
aging
embedded instruments
IEEE 1687
IJTAG
ISSN
1558-1101
ISBN
978-3-9815370-8-6
märkused
Bibliogr. p. 119-120
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Jutman, A., Lotz, C., Larsson, E., Sonza Reorda, M., Jenihhin, M., Raik, J. et al. BASTION : board and SoC test instrumentation for ageing and no failure found // Proceedings of the 2017 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 27-31 March 2017, Swisstech, Lausanne, Switzerland. [S.l.] : IEEE, 2017. p. 115-120 : ill. https://doi.org/10.23919/DATE.2017.7926968