Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
digitaalintegraallülitused (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
74
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(74)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Acceleration of recursive data sorting over tree-based structures
Mihhailov, Dmitri
;
Sudnitsõn, Aleksander
;
Sklyarov, Valery
;
Skliarova, Iouliia
Elektronika ir elektrotechnika = Electronics and electrical engineering
2011
/
p. 51-56 : ill
https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/612
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
Algorithms of functional level testability analysis for digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kuchcinski, Ktzysztof
Periodica polytechnica. Electrical engineering
1992
/
3/4, p. 295-308
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
Approaches to improve hierarchical ATPG for synchronous sequential circuits
Viilukas, Taavi
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kuuenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 3.-5. oktoobril 2012, Laulasmaa
2012
/
p. 105-108 : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Automated test pattern generator with constraint solver
Viilukas, Taavi
;
Raik, Jaan
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
2010
/
lk. 33-36
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Automatic synthesis of asynchronous circuits from synchronous RTL descriptions
Öberg, Johnny
;
Plosila, Juha
;
Ellervee, Peeter
Proceedings 23rd NORCHIP Conference : Oulu, Finland, 21-22 November 2005
2005
/
p. 200-205 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1597024/keywords#keywords
artikkel kogumikus
6
artikkel kogumikus
Back-traced deductive-parallel fault simulation for digital systems
Hahanov, Vladimir
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Hyduke, Stanley
Proceedings : Euromicro Symposium on Digital System Design : Belek-Antalya, Turkey, September 1st to 6th, 2003
2003
/
p. 370-377 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1231969
artikkel kogumikus
7
artikkel kogumikus
Boolean fault dignosis with structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
Recent progress in the Boolean domain
2014
/
p. 303-331 : ill
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
Collaborative distributed computing in the field of digital electronics testing
Ivask, Eero
;
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
Balanced Automation Systems for Future Manufacturing Networks : 9th IFIP WG 5.5 International Conference : BASYS 2010 : Valencia, Spain, July 21-23, 2010 : proceedings
2010
/
p. 145-152
artikkel kogumikus
9
artikkel kogumikus
Collaborative distributed fault simulation for digital electronic circuits
Ivask, Eero
;
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
Intelligent Distributed Computing IV : proceedings of the 4th International Symposium on Intelligent Distributed Computing - IDC 2010 : Tangier, Morocco, September 2010
2010
/
p. 67-76
artikkel kogumikus
10
artikkel kogumikus
Constraint-based hierarchical untestability identification for synchronous sequential circuits
Raik, Jaan
;
Rannaste, Anna
;
Jenihhin, Maksim
;
Viilukas, Taavi
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Fujiwara, Hideo
Sixteenth IEEE European Test Symposium : 23-27 May 2011, Trondheim
2011
/
p. 147-152
artikkel kogumikus
11
artikkel kogumikus
Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits
Viilukas, Taavi
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Rannaste, Anna
;
Jenihhin, Maksim
;
Fujiwara, Hideo
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve
2011
/
p. 139-142 : ill
artikkel kogumikus
12
dissertatsioon
Constraints solving based hierarchical test generation for synchronous sequential circuits = Kitsenduste lahendamisel baseeruv hierarhiline testigenereerimine sünkroonsetele järjestikskeemidele
Viilukas, Taavi
2012
https://www.ester.ee/record=b2888278*est
dissertatsioon
13
artikkel kogumikus
Decision diagrams for diagnostic modeling
Ubar, Raimund-Johannes
MEDIAN Finale : Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : November 10-11, 2015, Tallinn, Estonia
2015
/
p. 43
artikkel kogumikus
14
artikkel kogumikus
Defect-oriented modul-level fault diagnosis in digital circuits
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany
2011
/
p. 81-86
artikkel kogumikus
15
artikkel kogumikus
Description of digital objects with alternative graphs for test generation purposes
Ubar, Raimund-Johannes
;
Lohuaru, Tõnu
Fault Tolerant Systems and Diagnostics : XI. International Conference ; Proceedings ; Suhl, June 6-9, 1988
1988
/
p. [?]
artikkel kogumikus
16
raamat
Design and test technology for dependable systems-on-chip
2011
https://www.ester.ee/record=b4467408*est
raamat
17
artikkel kogumikus
Design error diagnosis using backtrace algorithm on decision diagrams
Repinski, Urmas
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Tšepurov, Anton
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
2010
/
p. 93-96
artikkel kogumikus
18
artikkel kogumikus
Design obfuscation versus test
Farahmandi, Farimah
;
Sinanoglu, Ozgur
;
Blanton, Ronald
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
2020
/
10 p
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590
artikkel kogumikus
19
raamat
Design of FPGA-based circuits using hierarchical finite state machines
Skliarova, Iouliia
;
Sklyarov, Valery
;
Sudnitsõn, Aleksander
2012
http://www.ester.ee/record=b2857138*est
raamat
20
dissertatsioon
DfT-based external test and diagnosis of mesh-like networks on chips = Testitavusel põhinev välise testi ja diagnoosi meetod kahemõõtmelistele kiipvõrkudele
Govind, Vineeth
2009
https://digi.lib.ttu.ee/i/?454
https://www.ester.ee/record=b2539211*est
dissertatsioon
21
dissertatsioon
Digital test in WEB-based environment
Ivask, Eero
2006
https://www.ester.ee/record=b2158119*est
dissertatsioon
22
artikkel ajakirjas
Dynamic analysis of digital circuits with multi-valued simulation
Ubar, Raimund-Johannes
Microelectronics journal
1998
/
11, p. 821-826: ill
artikkel ajakirjas
23
artikkel kogumikus
Evalutionary two-criteria optimization of finite state machines
Spitšakova, Margarita
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
2010
/
lk. 101-104
artikkel kogumikus
24
artikkel kogumikus
Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits
Skobtsov, Y.A.
;
Ivanov, D.E.
;
Skobtsov, V.Y.
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 229-232 : ill
artikkel kogumikus
25
artikkel kogumikus
Fast fault emulation for synchronous sequential circuits
Raik, Jaan
;
Ellervee, Peeter
;
Tihhomirov, Valentin
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of East–West Design & Test Workshop (EWDTW’04) : Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 23-26, 2004
2004
/
p. 35-40
https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=a6eb712498a5f23db3f95ad66bada257c21e96f0
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 74, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
3
järgmine
märksõna
1
1.
digitaalintegraallülitused
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT