Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
high-level control fault model (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/40)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
2
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
40
1.
high-level control fault model
2.
high-level fault model
3.
high-level functional fault model
4.
high-level fault coverage
5.
high-level fault simulation
6.
high-level control faults
7.
logic level and high level BDDs
8.
finite control set-model predictive control (FCS-MPC)
9.
modulated finite control set-model predictive control
10.
low-level fault redundancy
11.
fault analysis model
12.
functional fault model
13.
stuck-at fault model
14.
control fault models
15.
fault tolerant control
16.
fault-tolerant control
17.
high level DD (HLDD)
18.
high level synthesis
19.
high-level decision diagram
20.
high-level decision diagrams
21.
high-level decision diagrams (HLDD) synthesis
22.
high-level expert group on AI
23.
high-level synthesis
24.
High-Level Synthesis (HLS)
25.
high-level synthesis for test
26.
high-level test data generation
27.
level control
28.
low-level control system transportation
29.
high-frequency model
30.
decentralized model predictive control
31.
model predictive control
32.
model predictive control (MPC)
33.
model reference adaptive control
34.
model-based control
35.
model-free control
36.
multi-loop model reference control
37.
nonlinear model predictive control
38.
sliding model control
39.
ultralocal model (ULM) control
40.
High-Pressure High-Temperature Spark Plasma Sintering
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT