täiskirje prindi

Design obfuscation versus test

autor
Farahmandi, Farimah
Sinanoglu, Ozgur
Blanton, Ronald
Pagliarini, Samuel Nascimento
vastutusandmed
Farimah Farahmandi, Ozgur Sinanoglu, Ronald Blanton, Samuel Pagliarini
allikas
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
10 p
konverentsi nimetus, aeg
2020 IEEE European Test Symposium (ETS), 25-29 May 2020
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
ISBN
978-1-7281-4312-5
märkused
Bibliogr.: 41 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
logic locking
logic obfuscation
integrated circuit design
test
automatic test pattern generation
high level synthesis
Uurimisrühm
Riistvara turvalisuse keskus
Farahmandi, F., Sinanoglu, O., Blanton, R., Pagliarini, S. Design obfuscation versus test // 2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia. Danvers : IEEE, 2020. 10 p. https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590