prindi

Design obfuscation versus test

autor
Farahmandi, Farimah
Sinanoglu, Ozgur
Blanton, Ronald
Pagliarini, Samuel Nascimento
vastutusandmed
Farimah Farahmandi, Ozgur Sinanoglu, Ronald Blanton, Samuel Pagliarini
allikas
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2020
leheküljed
10 p
konverentsi nimetus, aeg
2020 IEEE European Test Symposium (ETS), 25-29 May 2020
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590
märksõna
digitaalintegraallülitused
testimine
VLSI-ahelad
raalprojekteerimine
võtmesõna
logic locking
logic obfuscation
integrated circuit design
test
automatic test pattern generation
high level synthesis
ISBN
978-1-7281-4312-5
märkused
Bibliogr.: 41 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Riistvara turvalisuse keskus
Farahmandi, F., Sinanoglu, O., Blanton, R., Pagliarini, S. Design obfuscation versus test // 2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia. Danvers : IEEE, 2020. 10 p. https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590