Lille, H., Kõo, J., Gregor, A., Ryabchikov, A., Sergejev, F., Traksmaa, R., Kulu, P.

prindi

Comparison of curvature and X-Ray methods for measuring of residual stresses in hard PVD coatings

autor

Lille, Harri

Kõo, Jakub

Gregor, Andre

Ryabchikov, Alexander

Sergejev, Fjodor

Traksmaa, Rainer

Kulu, Priit

vastutusandmed

Harri Lille, Jakub Kõo, Andre Gregor, Alexander Ryabchikov, Fjodor Sergejev, Rainer Traksmaa, Priit Kulu

allikas

Materials science forum

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 681, Residual Stresses VIII

ilmumisaasta

2011

leheküljed

p. 455-460

seeria-sari

Materials Science Forum

märksõna

kattematerjalid

pindamine

õhukesed kiled

röntgenikiirgus

difraktsioon

võtmesõna

curvature method

nc-(AlTi) N/a-Si3N4

PVD coating

thin film

TiAlN

TiCN

TiN

X-Ray Diffraction (XRD)

ISSN

1662-9752

keel

inglise

Lille, H., Kõo, J., Gregor, A., Ryabchikov, A., Sergejev, F., Traksmaa, R., Kulu, P. Comparison of curvature and X-Ray methods for measuring of residual stresses in hard PVD coatings // Materials science forum (2011) Vol. 681, Residual Stresses VIII, p. 455-460.