Special session: in-field ML-assisted intermittent fault localization and management in RISC-V SoCs
vastutusandmed
Hardi Selg, Konstantin Shibin, Anton Tsertov, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee, Jaan Raik
allikas
2024 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
ilmumiskoht
Los Alamitos, California
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
konverentsi nimetus, aeg
37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2024, 8-10 October 2024
konverentsi toimumispaik
Didcot
ISSN
2576-1501
ISBN
979-835036688-4
märkused
Bibliogr.: 13 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
võtmesõna
processor architecture
Scopus
klassifikaator
Selg, H., Shibin, K., Tsertov, A., Jenihhin, M., Ellervee, P., Raik, J. Special session: in-field ML-assisted intermittent fault localization and management in RISC-V SoCs // 2024 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). Los Alamitos, California : IEEE, 2024.