Otsing - TalTech teadusportaal

binary excitation (võtmesõna)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Notes on applicability of the impedance spectroscopy for characterization of materials and substancesAnnus, Paul; Land, Raul; Min, Mart; Reidla, Marko; Rist, MarekI2MTC 2016 : 2016 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference : May 23-26, 2016, Taipei International Convention Center, Taipei, Taiwan : proceedings2016 / p. 1052-1057 : ill https://doi.org/10.1109/I2MTC.2016.7520513 Conference Proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1