Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

93126

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcastingUbar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Jervan, Gert; Peng, ZeboIEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings2003 / p. 112-116 : ill https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf

artikkel kogumikus

93127

artikkel ajalehes

TEST: Gümnaasiumi maateaduse olümpiaadi küsimused [Võrguväljaanne]postimees.ee2021 "TEST: Gümnaasiumi maateaduse olümpiaadi küsimused"

artikkel ajalehes

93128

artikkel ajalehes

TEST: Kui hästi tunned meditsiinitehnoloogiat? [Võrguväljaanne]postimees.ee2021 "TEST: Kui hästi tunned meditsiinitehnoloogiat?"

artikkel ajalehes

93129

artikkel ajalehes

TEST: Kui palju tead energeetikast? [Võrguväljaanne]postimees.ee2021 "TEST: Kui palju tead energeetikast?"

artikkel ajalehes

93130

artikkel kogumikus

Testability analysis for efficient register-transfer level test generation [Electronic resource]Nõmmeots, Tanel; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes9th International Conference MIXDES 2002 : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Wroclaw, Poland, 20-22 June 20022002 / [4] p. [CD-ROM]

artikkel kogumikus

93131

artikkel kogumikus

Testability analysis of digital design verificationHahanov, V.; Kaminska, M.; Fomina, JelenaBEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference2006 / p. 171-174 : ill

artikkel kogumikus

93132

artikkel kogumikus

Testability calculation for digital circuits with decision diagramsUbar, Raimund-Johannes3rd IEEE Latin American Test Workshop : LATW'02, Montevideu, Uruguay, February 10-13, 2002 : digest of papers2002 / p. 137-143 : ill

artikkel kogumikus

93133

artikkel kogumikus

Testability guided hierarchical test generation with decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Nõmmeots, Tanel20th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 11-12, 20022002 / p. 265-271

artikkel kogumikus

93134

artikkel kogumikus

Testability-based parameter measurement of analog measuring circuits in the frequency domainLiu, Ji-Gou; Frühauf, UweBEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings1998 / p. 329-332: ill

artikkel kogumikus

93135

artikkel ajakirjas

Testaliin - uus püüniste peitsimisvahend ja selle tarvitamineTiitus, B.Eesti Kalandus1939 / lk. 133-135

artikkel ajakirjas

93136

artikkel kogumikus

Testentwicklung für Mikroprozessorsystem mit Hilfe der alternativen GraphenAlango, Villem; Kont, Toomas; Ubar, Raimund-Johannes33. Internationales wissenschaftliches Kolloquium : 24.-28.10.1988. H.1.1988 / S- 11-14 https://www.ester.ee/record=b2936968*est

artikkel kogumikus

93137

artikkel kogumikus

Testentwurf für digitale Geräte mit Hilfe der AlternativgraphenVoolaine, Andrus; Pall, Martin; Plakk, MariFehler in Automaten1989 / S. 31-44 : Ill

artikkel kogumikus

93138

artikkel kogumikus

Tester partitioning and synchronization algorithm for testing real-time distributed systemsPal, Deepak; Vain, JüriProceedings of the 10th Junior Researcher Workshop on Real-Time Computing : JRWRTC 2016 : Brest, France, October 19-21, 20162016 / p. 13-16 : ill http://jrwrtc2016.gforge.inria.fr/

artikkel kogumikus

93139

artikkel ajalehes

Testi tulemused ületasid ootusi : Ida-Virumaa põlevkivituhast saab toota värvirohe.geenius.ee2024 Testi tulemused ületasid ootusi : Ida-Virumaa põlevkivituhast saab toota värvi

artikkel ajalehes

93140

raamat

Testid harjutamiseksTeichmann, Mare; Anton, Riina1997

raamat

93141

artikkel kogumikus

Testide genereerimine loogikalülituste alternatiivsete graafide süsteemi mudeli abilSaarma, G.; Ubar, Raimund-JohannesXXIX vabariiklik üliõpilaste teaduslik- tehniline konverents 30. märtsist - 1. aprillini 1977 : ettekannete teesid1977 / lk. 43 https://www.ester.ee/record=b2449987*est

artikkel kogumikus

93142

artikkel kogumikus

Testieren der kommunikativen SprachkompetenzSerwuta, A.V Regional Seminar East-West Meeting of Language Testing, Tallinn, September 2-4, 1991 : summaries1991 / p. 92-94

artikkel kogumikus

93143

artikkel ajalehes

TestiJulgelt.ee valiti 15 edasipääsenu sekka! : [äriideede konkursil Ajujaht 2012 : lühisõnum]Karu, Kaisa-Triin; Karu, KätrinMente et Manu2012 / lk. 2 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

93144

artikkel ajakirjas

Testiküsimusi enesekontrolliks Raamatupidaja II kutsekvalifikatsioonieksamiks valmistumiselAlver, JaanRaamatupidamisuudised2005 / 6, lk. 2-4 https://artiklid.elnet.ee/record=b2352845*est

artikkel ajakirjas

93145

artikkel kogumikus

Testing and evaluation of students' activity results in interconnected acquiring of a foreign language and professional subjects in a higher technical schoolRotanova, A.V Regional Seminar East-West Meeting of Language Testing, Tallinn, September 2-4, 1991 : summaries1991 / p. 80-82

artikkel kogumikus

93146

artikkel ajakirjas

Testing and implementation of mobile services for packet-based networksKulmar, Marika; Ots, Avo; Tomingas, PeepBaltic ITAMPT review2002 / 3, p. 32-34 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2024795*est

artikkel ajakirjas

93147

artikkel kogumikus

Testing and teachingSpolsky, BernardV Regional Seminar East-West Meeting of Language Testing, Tallinn, September 2-4, 1991 : summaries1991 / p. 97-98

artikkel kogumikus

93148

artikkel kogumikus

Testing as a means of consolidation of students' knowledgeShaymardanova, Sh.Kh.V Regional Seminar East-West Meeting of Language Testing, Tallinn, September 2-4, 1991 : summaries1991 / p. 94-95

artikkel kogumikus

93149

artikkel kogumikus

Testing beyond the SoCs in a lego styleTšertov, Anton; Jutman, Artur; Devadze, SergeiProceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'10) : St. Petersburg, Russia, September 17-20, 20102010 / p. 334-338 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/5742052

artikkel kogumikus

93150

artikkel kogumikus

Testing different power system out-of-step detection algorithmsTealane, Marko18th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering". Doctoral School of Energy and Geotechnology III : Toila, Estonia, January 14-19, 2019 : [proceedings]2019 / p. 199-200 : ill https://www.ester.ee/record=b5183874*est

artikkel kogumikus

teaviku laadid