Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

51

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Overview of digital twin platforms for EV applicationsMohamed, Mahmoud Ibrahim Hassanin; Rjabtšikov, Viktor; Zequera, Rolando Antonio GilbertSensors2023 / art. 1414, 15 p. : ill https://doi.org/10.3390/s23031414 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Seotud publikatsioonid 2

Advanced Modelling Frameworks for the Digital Twin of an Autonomous Electric Vehicle Propulsion Drive System = Autonoomse elektrisõiduki veoelektriajami digitaalse kaksiku täiustatud modelleerimise raamistikud
Artificial Intelligence-Based Predictive Analytics for Battery Energy Storage Systems in Electric Vehicle Applications = Tehisintellektil põhinev ennustav andmeanalüüs akupõhiste energiasalvestussüsteemide jaoks elektrisõidukites

52

artikkel kogumikus

Research environment for teaching digital testIvask, Eero; Jutman, Artur; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichSynergies between Information and Automation : 49. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 27.-30.9.2004, Technische Universität Ilmenau, Germany. Volume 22004 / p. 468-473 : ill https://pld.ttu.ee/dildis/publications/IWK'2004_res_inv.pdf

artikkel kogumikus

53

dissertatsioon

Selected issues of modeling, verification and testing of digital systemsJutman, Artur2004 https://www.ester.ee/record=b1989760*est

dissertatsioon

54

artikkel ajakirjas

Silmade asemel, ehk, Lihtne digitaalne ostsilloskoop arvutileSinivee, VeljoArvutikasutaja2005 / 2, lk. 10-12 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1050354*est

artikkel ajakirjas

55

artikkel kogumikus

Simulation-based verification with APRICOT framework using high-level decision diagramsJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesEast-West Design & Test Symposium : Moscow, September 18-21, 20092009 / p. 13-16 : ill

artikkel kogumikus

56

raamat

Sissejuhatus digitaaltehnikasseLehtla, Madis2016 http://www.ester.ee/record=b4618200*est

raamat

57

artikkel ajakirjas

Test cover calculation in digital systems with word-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, MarinaВестник Томского государственного университета2002 / с. 315-319 : ил

artikkel ajakirjas

58

artikkel kogumikus

Testentwurf für digitale Geräte mit Hilfe der AlternativgraphenVoolaine, Andrus; Pall, Martin; Plakk, MariFehler in Automaten1989 / S. 31-44 : Ill

artikkel kogumikus

59

raamat

The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedingsRang, Toomas2000 https://www.ester.ee/record=b2150914*est

raamat

60

artikkel kogumikus

A tool for teaching hierarchical fault diagnosis in digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Orasson, Elmet; Evartson, Teet; Brik, MarinaProceedings of 9th European Workshop on Microelectronics Education – EWME’12 : Grenoble, France, May 9-11, 20122012 / p. 1-4

artikkel kogumikus

61

artikkel ajakirjas

Trabajadores de la economía gig en la Unión Europea : hacia un cambio en su clasificación jurídicaKerikmäe, Tanel; Kajander, Aleksi Oskar JohannesRevista CIDOB d'afers internacionals2022 / p. 117-139 https://doi.org/10.24241/rcai.2022.131.2.117

artikkel ajakirjas

62

artikkel kogumikus

Turbo Tester : a low cost PC-based CAD system for training digital testUbar, Raimund-JohannesSampTA'95 : 1995 Workshop on Sampling Theory & Applications, Jurmala, Latvia, September 20-22, 19951995

artikkel kogumikus

63

artikkel ajalehes

Tööstuses toimuvaid protsesse saab nüüdsest jälgida reaalajasShirokova, Veroonikatoostusuudised.ee2022 Tööstuses toimuvaid protsesse saab nüüdsest jälgida reaalajas

artikkel ajalehes

64

artikkel ajakirjas

Tööstuses toimuvaid protsesse saab nüüdsest jälgida reaalajasShirokova, VeroonikaMente et Manu2022 / lk. 43 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajakirjas

65

artikkel kogumikus

Анализ полноты тестов для цифровых схем на модели альтернативных графовKitsnik, PeeterСинтез и диагностика цифровых устройств и систем1982 / с. 39-51 : илл https://www.ester.ee/record=b1328194*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/febd586e-d7fa-4fbd-bf41-40576a75f94b

artikkel kogumikus

digitaalelektroonika (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1