Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
831
Vaata veel..
(4/149)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(831)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
251
artikkel kogumikus
Fast extended test access via JTAG and FPGAs
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Ubar, Raimund-Johannes
International Test Conference 2009 : November 1 - November 6, 2009, Austin Convention Center, Austin, Texas USA : proceedings
2009
/
p. 1-7 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/TEST.2009.5355668
artikkel kogumikus
252
artikkel kogumikus
Fast fault emulation for synchronous sequential circuits
Raik, Jaan
;
Ellervee, Peeter
;
Tihhomirov, Valentin
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of East–West Design & Test Workshop (EWDTW’04) : Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 23-26, 2004
2004
/
p. 35-40
https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=a6eb712498a5f23db3f95ad66bada257c21e96f0
artikkel kogumikus
253
artikkel kogumikus
Fast fault simulation for extended class of faults in scan-path circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
Proceedings : Fifth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2010 : 13-15 January 2010, Ho Chi Minh City, Vietnam
2010
/
p. 14-19
https://ieeexplore.ieee.org/document/5438717
artikkel kogumikus
254
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Fast identification of true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Jürimägi, Lembit
Microelectronics reliability
2018
/
p. 252-261 : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
255
artikkel kogumikus
Fast RTL fault simulation using decision diagrams and bitwise set operations
Reinsalu, Uljana
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 3-5 October 2011, Vancouver, Canada
2011
/
p. 164-170
https://ieeexplore.ieee.org/document/6104440
artikkel kogumikus
256
artikkel kogumikus
Fast static compaction of test sequences using implications and greedy search
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
ETW 2001 : IEEE European Test Workshop : Stockholm, May 29 June 1, 2001 : informal digest
2001
/
p. 207-209 : ill
artikkel kogumikus
257
artikkel kogumikus
Fast static compaction of tests composed of independent sequences : basic properties and comparison of methods
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
The 9th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : ICECS 2002 : September 15-18, 2002, Dubrovnik, Croatia. Volume II
2002
/
p. 445-448 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2002.1046190
https://ieeexplore.ieee.org/document/1046190
artikkel kogumikus
258
artikkel kogumikus
Fast test cost calculation for hybrid BIST in digital systems
Orasson, Elmet
;
Raidma, Rein
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jervan, Gert
;
Peng, Zebo
Euromicro Symposium on Digital Systems Design : [Architectures, Methods and Tools : DSD 2001] : September 4-6, 2001, Warsaw, Poland : proceedings
2001
/
p. 318-325 : ill
https://www.semanticscholar.org/paper/Fast-test-cost-calculation-for-hybrid-BIST-in-Orasson-Raidma/5aafcda5a18c2aabf0ad20cac10af10727f3c58f
artikkel kogumikus
259
artikkel ajakirjas
Fast test pattern generation for sequential circuits using decision diagram representations
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2000
/
3, p. 213-226 : ill
https://link.springer.com/article/10.1023/A:1008335130158
artikkel ajakirjas
260
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Fault collapsing in digital circuits using fast fault dominance and equivalence analysis with SSBDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015 Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
2016
/
p. 23-45 : ill
https://doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0_2
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
261
artikkel kogumikus
Fault collapsing with linear complexity in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Mironov, Dmitri
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
Proceedings of 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2010) : 30 May - 2 June 2010, Paris, France
2010
/
p. 653-656 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/5537504
artikkel kogumikus
262
artikkel kogumikus
Fault diagnosis in integrated circuits with BIST
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Evartson, Teet
;
Lensen, Harri
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 604-610 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341530
artikkel kogumikus
263
artikkel kogumikus
Fault diagnosis in the BIST environment based on bisection of detected faults
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
LATW2007 : 8th IEEE Latin-American Test Workshop : March 11-14, 2007, Cuzco, Peru
2007
/
[6] p. : ill
artikkel kogumikus
264
artikkel ajakirjas
Fault diagnosis in VLSI devices
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
1995
/
1, p. 51-67
artikkel ajakirjas
265
artikkel kogumikus
Fault diagnosis of VLSI devices using alternative graph representation
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 8th Symposium on Microcomputer and Microprocessor Applications, Budapest, October 12-14, 1994. Vol. 1
1994
/
p. 34-44
artikkel kogumikus
266
artikkel ajakirjas
Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика
2014
/
p. 99-113 : ill
http://journals.tsu.ru/informatics/&journal_page=archive&id=923&article_id=12107
artikkel ajakirjas
267
artikkel kogumikus
Fault model and test synthesis for RISC-processors
Ubar, Raimund-Johannes
;
Markus, Antti
;
Jervan, Gert
;
Raik, Jaan
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 229-232: ill
artikkel kogumikus
268
artikkel kogumikus
Fault modeling and diagnosis in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
CREDES Summer School : Dependable Systems Design : handouts
2011
/
p. 91-106 : ill
artikkel kogumikus
269
artikkel kogumikus
Fault modeling and test generation with low- and high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
24. GI/GMM/ITG-Workshop : Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
2012
/
p. 1-12
artikkel kogumikus
270
artikkel kogumikus
Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using Genetic Algorithms
Ivask, Eero
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings
2000
/
p. 129-132 : ill
artikkel kogumikus
271
artikkel kogumikus
Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms
Ivask, Eero
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE European Test Workshop
2000
/
p. 319-320
artikkel kogumikus
272
dissertatsioon
Fault simulation of digital systems = Digitaalsüsteemide rikete simuleerimine
Devadze, Sergei
2009
https://digi.lib.ttu.ee/i/?445
https://www.ester.ee/record=b2508727*est
dissertatsioon
273
artikkel kogumikus
Fault simulation with parallel critical path tracing for combinational circuits using structurally synthesized BDDs
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06 : Buenos Aires, Argentina, March 26th-29th, 2006 : proceedings
2006
/
p. 97-102 : ill
artikkel kogumikus
274
artikkel kogumikus
Fault simulation with parallel exact critical path tracing in multiple core environment
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
Proceedings of the 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : 9-13 March 2015, Grenoble, France
2015
/
p. 1180-1185 : ill
artikkel kogumikus
275
artikkel kogumikus
Faults and fault models for integrated circuits and systems [Electronic resource] : [slides]
Ubar, Raimund-Johannes
Design and Test Technology for Dependable Hardware/Software Systems : DEDIS/DAAD Summer Academy : BTU Cottbus, Sept. 1st-12th, 2008
2008
/
[64] p. : ill. [CD-ROM]
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 831, kuvan
251 - 275
eelmine
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
järgmine
CV
63
1.
Ubar, Raimund-Johannes 1941
2.
Palm, Raimund
3.
Räämet, Raimund 1918-2004
4.
Aare, Johannes 1915-2000
5.
Aavik, Eduard-Johannes
6.
Ahrenschild, Johannes (-1936)
7.
Alaots, Johannes
8.
Aljak, Arnold Johannes
9.
Allik, Erich-Johannes
10.
Avik, Eduard Johannes 1891-1942
11.
Drechsler, Wolfgang Johannes Max
12.
Ehala, Johannes 1986
13.
Hint, Johannes 1914-1985
14.
Johannes, Ille 1939
15.
Johannson, Johannes
16.
Johanson, Johannes
17.
Juhans, Johannes 1874-1956
18.
Kajander, Aleksi Oskar Johannes 1994
19.
Kiiwet, Johannes
20.
Kiivet, Johannes 1879-1967
21.
Kivit, Johannes
22.
Kollist, Johannes 1884-1937
23.
Kollist, Johannes Theodor
24.
Korv, August Johannes 1911-1981
25.
Krimmer, Robert Johannes
26.
Käpp, Martin Johannes
27.
Langel, Johannes 1900-1985
28.
Langell, Johannes
29.
Livländer, Robert Johannes
30.
Lutsar, Richard-Johannes
31.
Madise, Johannes 1920-?
32.
Maltenek, Evald Leonhard Johannes
33.
Matsulevitš, Johannes
34.
Meitre, Johannes 1906-1978
35.
Messer, Johannes
36.
Muru, Johannes 1995
37.
Mäll, Johannes 1911-1981
38.
Mühlman, Johannes
39.
Mühlmann, Johannes 1888-1936
40.
Notermans, Antonius Johannes Hubertus 1959
41.
Nuudi, Johannes 1895-1975
42.
Palo, Johannes 1925-1960
43.
Pals, Johannes 1903-1941
44.
Pello, Johannes 1958
45.
Pervik, Johannes 1892-1958
46.
Pervik, Johannes-Eduard
47.
Presmann, Johannes 1942
48.
Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
49.
Püümann, Mait Johannes
50.
Renter, Olav-Johannes
51.
Roes, Johannes 1914
52.
Russwurm, Johannes
53.
Russvurm, Johannes 1855-1939
54.
Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
55.
Sakeus, Johannes 1880-1934
56.
Taimsalu, Johannes 1891-1942
57.
Teiman, Johannes
58.
Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
59.
Tomson, Johannes
60.
Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
61.
Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
62.
Verus, Johannes Voldemar
63.
Vuhk, Oskar Johannes
autor
57
1.
Ubar, Raimund-Johannes
2.
Hagelberg, Raimund
3.
Räämet, Raimund
4.
Aare, Johannes
5.
Allas, Johannes-Emmanuel
6.
Avik, Eduard Johannes
7.
Bauer, Johannes
8.
Bender, Naatan Johannes
9.
Buchmann, Johannes
10.
Deelstra, Johannes
11.
Ehala, Johannes
12.
Engelmayer, Johannes
13.
Gotzmann, Johannes
14.
Helander, Johannes
15.
Hint, Johannes
16.
Hüsse, Johannes
17.
Johannes, Anu
18.
Johannes, Ellen
19.
Johannes, Ille
20.
Johannes, Kaljo-Mihkel
21.
Järv, Johannes
22.
Kadak, Johannes
23.
Kajander, Aleksi Oskar Johannes
24.
Karstensen, Johannes
25.
Kerkhoven, Eduard Johannes
26.
Kiivet, Johannes
27.
Krimmer, Robert Johannes
28.
Kukebal, Johannes
29.
Meitre, Johannes
30.
Miller, Johannes
31.
Mühlman, Johannes
32.
Norberg, Johannes
33.
Notermans, Antonius Johannes Hubertus
34.
Ortlepp, Johannes
35.
Parikas, Johannes
36.
Pello, Johannes
37.
Pervik, Johannes-Eduard
38.
Piiper, Johannes
39.
Presmann, Johannes
40.
Putk, Aksel-Johannes
41.
Pätsch, Johannes
42.
Saar, Johannes
43.
Sautter, Johannes
44.
Sinisalo, Touko Johannes
45.
Steinbrunn, Johannes
46.
Sutt, Johannes
47.
Zeiringer, Johannes Paul
48.
Taimsalu, Johannes
49.
Talu, Martin Johannes
50.
Tammekänd, Johannes
51.
Tilk, Johannes
52.
Tralla, Johannes
53.
Veerus, Johannes
54.
Vibur, Johannes Ferdinand
55.
Vind, Johannes
56.
Voll, Johannes
57.
Voltri, Johannes
tema kohta
28
1.
Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2.
Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3.
Räämet, Raimund, 1918-2004
4.
Aare, Johannes, 1915-2000
5.
Aavik, Johannes, 1880-1973
6.
Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7.
Bender, Naatan Johannes
8.
Erm, Johannes, 1998-
9.
Granö, Johannes Gabriel
10.
Hint, Johannes, 1914-1985
11.
Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12.
Kert, Johannes
13.
Kiivet, Johannes, 1879-1967
14.
Kollist, Johannes
15.
Käis, Johannes
16.
Lang, Johannes
17.
Maide, Johannes Voldemar
18.
Mossov, Johannes
19.
Pals, Johannes, 1903-1941
20.
Pello, Johannes
21.
Putk, Aksel-Johannes
22.
Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23.
Steinbrunn, Johannes
24.
Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25.
Talu, Martin Johannes
26.
Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27.
Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28.
Voll, Johannes
märksõna
1
1.
Johannes Mittus, vasevalamise tööstus
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT