Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
831
Vaata veel..
(4/149)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(831)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
451
artikkel kogumikus
Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
2010
/
p. 149-152 : ill
artikkel kogumikus
452
artikkel kogumikus
Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
2010
/
lk. 53-56 : ill
artikkel kogumikus
453
artikkel kogumikus
Mapping faults in hierarchical testing of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
International Conference on Computer, Communication and Control Technologies CCCT'03 and the 9th International Conference on Information Systems, Analysis and Synthesis ISAS'03 : July 31 - August 1-2, Orlando, Florida, USA : proceedings. Volume I, Computing/Information Systems and Technologies
2003
/
p. 14-19 : ill
artikkel kogumikus
454
artikkel kogumikus
Mapping physical defects to logic level for defect oriented testing
Ubar, Raimund-Johannes
SCS 2003 : International Symposium on Signals, Circuits and Systems : July 10-11, 2003, Iasi, Romania : proceedings. Vol. 2
2003
/
p. 453-456 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/5731320
artikkel kogumikus
455
artikkel kogumikus
Measuring and identifying aging-critical paths in FPGAs
Pfeifer, Petr
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Pliva, Zdenek
MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France
2015
/
p. 56-61 : ill
artikkel kogumikus
456
artikkel kogumikus
A method for crosstalk fault detection in on-chip buses
Bengtsson, Tomas
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kumar, Shashi
Norchip : proceedings : Oulu, Finland, 21-22 November 2005
2005
/
p. 285-288 : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHP.2005.1597045
artikkel kogumikus
457
artikkel kogumikus
Method for testing the brain
Hinrikus, Hiie
;
Bachmann, Maie
;
Lass, Jaanus
;
Tuulik, Viiu
;
Ubar, Raimund-Johannes
5th European Conference of the International Federation for Medical and Biological Engineering : 14-18 September 2011, Budapest, Hungary
2012
/
p. 1198-1201 : ill
artikkel kogumikus
458
dissertatsioon
Methods for improving the accuracy and efficiency of fault simulation in digital systems = Meetodid digitaalsüsteemide rikete simuleerimise täpsuse ja efektiivsuse tõstmiseks
Kõusaar, Jaak
2019
https://digi.lib.ttu.ee/i/?11667
dissertatsioon
459
artikkel kogumikus
Methods for improving the performance of simulation
Mermet, J.
;
Morawiec, A.
;
Ubar, Raimund-Johannes
Annual report 2000 / TIMA Laboratory
2001
/
p. 90-94
artikkel kogumikus
460
artikkel kogumikus
Methods for improving the simulation performance
Mermet, J.
;
Morawiec, A.
;
Ubar, Raimund-Johannes
Techniques of Informatics and Microelectronics for Computer Architecture
1999
/
p. 91-94
artikkel kogumikus
461
artikkel kogumikus
Microprocessor modeling for board level test access automation
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of 10th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing : Hong Kong, November 27-28, 2009
2009
/
? p
artikkel kogumikus
462
artikkel kogumikus
Microprocessor-based system test using debug interface
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Tšertov, Anton
;
Instenberg, Martin
;
Ubar, Raimund-Johannes
26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings
2008
/
p. 98-101 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2008.4738291
artikkel kogumikus
463
artikkel ajalehes
Mida peaks teaduspoliitikas reformima? : kui hindamisel jääb puudu kompetentsusest, on bibliomeetria see faktor, mis alati kõneleb täiel häälel ja vastuvaidlematult
Ubar, Raimund-Johannes
Sirp
2014
/
lk. 34-35
https://www.sirp.ee/s1-artiklid/c9-sotsiaalia/mida-peaks-teaduspoliitikas-reformima/
artikkel ajalehes
464
artikkel ajakirjas
Mikroprotsessor Tehnikaülikoolist transistori 50. sünnipäevaks
Ubar, Raimund-Johannes
Horisont
1997
/
8, lk. 10-11: ill
https://artiklid.elnet.ee/record=b2325971*est
artikkel ajakirjas
465
artikkel kogumikus
Minicomputer software for fault location control in digital circuits
Lohuaru, Tõnu
;
Viilup, Agu
;
Ubar, Raimund-Johannes
Preprints the 2nd IFAC/IFIP Symposium on Software for Computer Control, SOCOCO, Prague, Czechoslovakia, June 11-15, 1979 ; Vol. 1
1979
/
p. [?]
https://www.ester.ee/record=b2041567*est
artikkel kogumikus
466
artikkel kogumikus
Minimization of the high-level fault model for microprocessor control parts [Online resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Medaiyese, Olusiji
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p.: ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600980
artikkel kogumikus
467
artikkel ajalehes
Missioonikriitiliste sardsüsteemide arendamise nimel : [Integreeritud Elektroonikasüsteemide ja Biomeditsiinitehnika Tippkeskusest : intervjuu Raimund Ubari ja Gert Jervaniga]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jervan, Gert
;
Ummelas, Mart
Mente et Manu
2009
/
30. jaan., lk. 1, 3 : ill ; 16. veebr., lk. 5 : ill
https://www.ester.ee/record=b1242496*est
artikkel ajalehes
468
artikkel kogumikus
Mixed bottom-up/top-down hierarchical test generation for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 9th European Workshop on Dependable Computing, Gdansk, Poland, May 14-16, 1998
1998
/
p. 37-40
artikkel kogumikus
469
artikkel ajakirjas
Mixed hierarchical-functional fault models for targeting sequential cores
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
;
Jenihhin, Maksim
Journal of systems architecture
2008
/
3/4, p. 465-477 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S1383762107001166
artikkel ajakirjas
470
artikkel kogumikus
Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 2
2002
/
p. 617-620 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1003333
artikkel kogumikus
471
artikkel kogumikus
Mixed-level deterministic-random test generation for digital systems
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 5th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Lodz, Poland, June 18-20, 1998
1998
/
p. 335-340
artikkel kogumikus
472
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
473
artikkel ajakirjas
Mixed-level test generator for digital systems
Brik, Marina
;
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Paomets, Priidu
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
1997
/
4, p. 271-282 : ill
artikkel ajakirjas
474
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Modeling and simulation of circuits with shared structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Raik, Jaan
;
Viies, Vladimir
Microprocessors and microsystems
2017
/
p. 56-61 : ill
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2016.09.006
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
475
artikkel kogumikus
Modeling microprocessor faults on high-level decision diagrams [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Jenihhin, Maksim
;
Istenberg, Martin
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
DSN 2008 : supplemental : 2008 IEEE International Conference on Dependable Systems & Networks With FTCS & DCC (DSN) : June 24-27, 2008, Anchorage, Alaska
2008
/
p. C17-C22 : ill. [CD-ROM]
https://webhost.laas.fr/TSF/WDSN08/2ndWDSN08(LAAS)_files/Slides/WDSN08S-04-Ubar.pdf
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 831, kuvan
451 - 475
eelmine
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
järgmine
CV
63
1.
Ubar, Raimund-Johannes 1941
2.
Palm, Raimund
3.
Räämet, Raimund 1918-2004
4.
Aare, Johannes 1915-2000
5.
Aavik, Eduard-Johannes
6.
Ahrenschild, Johannes (-1936)
7.
Alaots, Johannes
8.
Aljak, Arnold Johannes
9.
Allik, Erich-Johannes
10.
Avik, Eduard Johannes 1891-1942
11.
Drechsler, Wolfgang Johannes Max
12.
Ehala, Johannes 1986
13.
Hint, Johannes 1914-1985
14.
Johannes, Ille 1939
15.
Johannson, Johannes
16.
Johanson, Johannes
17.
Juhans, Johannes 1874-1956
18.
Kajander, Aleksi Oskar Johannes 1994
19.
Kiiwet, Johannes
20.
Kiivet, Johannes 1879-1967
21.
Kivit, Johannes
22.
Kollist, Johannes 1884-1937
23.
Kollist, Johannes Theodor
24.
Korv, August Johannes 1911-1981
25.
Krimmer, Robert Johannes
26.
Käpp, Martin Johannes
27.
Langel, Johannes 1900-1985
28.
Langell, Johannes
29.
Livländer, Robert Johannes
30.
Lutsar, Richard-Johannes
31.
Madise, Johannes 1920-?
32.
Maltenek, Evald Leonhard Johannes
33.
Matsulevitš, Johannes
34.
Meitre, Johannes 1906-1978
35.
Messer, Johannes
36.
Muru, Johannes 1995
37.
Mäll, Johannes 1911-1981
38.
Mühlman, Johannes
39.
Mühlmann, Johannes 1888-1936
40.
Notermans, Antonius Johannes Hubertus 1959
41.
Nuudi, Johannes 1895-1975
42.
Palo, Johannes 1925-1960
43.
Pals, Johannes 1903-1941
44.
Pello, Johannes 1958
45.
Pervik, Johannes 1892-1958
46.
Pervik, Johannes-Eduard
47.
Presmann, Johannes 1942
48.
Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
49.
Püümann, Mait Johannes
50.
Renter, Olav-Johannes
51.
Roes, Johannes 1914
52.
Russwurm, Johannes
53.
Russvurm, Johannes 1855-1939
54.
Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
55.
Sakeus, Johannes 1880-1934
56.
Taimsalu, Johannes 1891-1942
57.
Teiman, Johannes
58.
Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
59.
Tomson, Johannes
60.
Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
61.
Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
62.
Verus, Johannes Voldemar
63.
Vuhk, Oskar Johannes
autor
57
1.
Ubar, Raimund-Johannes
2.
Hagelberg, Raimund
3.
Räämet, Raimund
4.
Aare, Johannes
5.
Allas, Johannes-Emmanuel
6.
Avik, Eduard Johannes
7.
Bauer, Johannes
8.
Bender, Naatan Johannes
9.
Buchmann, Johannes
10.
Deelstra, Johannes
11.
Ehala, Johannes
12.
Engelmayer, Johannes
13.
Gotzmann, Johannes
14.
Helander, Johannes
15.
Hint, Johannes
16.
Hüsse, Johannes
17.
Johannes, Anu
18.
Johannes, Ellen
19.
Johannes, Ille
20.
Johannes, Kaljo-Mihkel
21.
Järv, Johannes
22.
Kadak, Johannes
23.
Kajander, Aleksi Oskar Johannes
24.
Karstensen, Johannes
25.
Kerkhoven, Eduard Johannes
26.
Kiivet, Johannes
27.
Krimmer, Robert Johannes
28.
Kukebal, Johannes
29.
Meitre, Johannes
30.
Miller, Johannes
31.
Mühlman, Johannes
32.
Norberg, Johannes
33.
Notermans, Antonius Johannes Hubertus
34.
Ortlepp, Johannes
35.
Parikas, Johannes
36.
Pello, Johannes
37.
Pervik, Johannes-Eduard
38.
Piiper, Johannes
39.
Presmann, Johannes
40.
Putk, Aksel-Johannes
41.
Pätsch, Johannes
42.
Saar, Johannes
43.
Sautter, Johannes
44.
Sinisalo, Touko Johannes
45.
Steinbrunn, Johannes
46.
Sutt, Johannes
47.
Zeiringer, Johannes Paul
48.
Taimsalu, Johannes
49.
Talu, Martin Johannes
50.
Tammekänd, Johannes
51.
Tilk, Johannes
52.
Tralla, Johannes
53.
Veerus, Johannes
54.
Vibur, Johannes Ferdinand
55.
Vind, Johannes
56.
Voll, Johannes
57.
Voltri, Johannes
tema kohta
28
1.
Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2.
Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3.
Räämet, Raimund, 1918-2004
4.
Aare, Johannes, 1915-2000
5.
Aavik, Johannes, 1880-1973
6.
Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7.
Bender, Naatan Johannes
8.
Erm, Johannes, 1998-
9.
Granö, Johannes Gabriel
10.
Hint, Johannes, 1914-1985
11.
Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12.
Kert, Johannes
13.
Kiivet, Johannes, 1879-1967
14.
Kollist, Johannes
15.
Käis, Johannes
16.
Lang, Johannes
17.
Maide, Johannes Voldemar
18.
Mossov, Johannes
19.
Pals, Johannes, 1903-1941
20.
Pello, Johannes
21.
Putk, Aksel-Johannes
22.
Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23.
Steinbrunn, Johannes
24.
Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25.
Talu, Martin Johannes
26.
Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27.
Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28.
Voll, Johannes
märksõna
1
1.
Johannes Mittus, vasevalamise tööstus
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT