Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 831
Vaata veel.. (4/147)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (831)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
601

artikkel ajakirjas

Software-based self-test generation for microprocessors with high-level decision diagramsJasnetski, Artjom; Ubar, Raimund-Johannes; Tšertov, Anton; Brik, MarinaProceedings of the Estonian Academy of Sciences2014 / p. 48-61 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2665215*est

artikkel ajakirjas
602

raamat

Software-based self-test with decision diagrams for microprocessorsUbar, Raimund-Johannes; Jasnetski, Artjom; Tšertov, Anton; Oyeniran, Adeboye Stephen2018

raamat
603

artikkel kogumikus

SPICE-inspired fast gate-level computation of NBTI-induced delays in nanoscale logicKostin, Sergei; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings2015 / p. 223-228 : ill

artikkel kogumikus
604

artikkel kogumikus

SSBDD model : advantageous properties and efficient simulation algorithmsRaik, Jaan; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesETW'02 : 7th IEEE European Test Workshop, Gorfu Greece, May 26-29, 2002 : informal digest2002 / p. 345-346 : ill

artikkel kogumikus
605

artikkel kogumikus

SSBDDs : advantageous model and efficient algorithms for digital circuit modeling, simulation & testJutman, Artur; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes5th International Workshop on Boolean Problems : September 19-20, 2002, Freiberg (Sachsen) : proceedings2002 / p. 157-166 : ill

artikkel kogumikus
606

artikkel kogumikus

SSBDDs and double topology for multiple fault reasoningUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, JaanProceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2012) : Kharkov, Ukraine, September 14–17, 20122012 / p. 23-28

artikkel kogumikus
607

artikkel kogumikus

Structural fault collapsing by superposition of BDDs for test generation in digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Mironov, Dmitri; Raik, Jaan; Jutman, ArturProceedings of the Eleventh International Symposium on Quality Electronic Design ISQED 2010 : March 22-24, 2010 San Jose, California USA2010 / p. 250-257 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/5450451

artikkel kogumikus
608

artikkel kogumikus

Structurally synthesized binary decision diagramsJutman, Artur; Peder, Ahti; Raik, Jaan; Tombak, Mati; Ubar, Raimund-JohannesBoolean Problems : 6th International Workshop : September 23-24, 2004, Freiberg2004 / p. 271-278 : ill

artikkel kogumikus
609

artikkel kogumikus

Structurally synthesized multiple input BDDs for simulation of digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Mironov, Dmitri; Raik, Jaan; Jutman, Artur16th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, ICECS 2009 : Yasmine Hammamet, Tunesia, 13-19 December, 20092009 / p. 451-454 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2009.5410895

artikkel kogumikus
610

artikkel kogumikus

Structurally synthesized multiple input BDDs for speeding up logic-level simulation of digital circuitsMironov, Dmitri; Ubar, Raimund-Johannes; Devadze, Sergei; Raik, Jaan; Jutman, Artur13th Euromicro Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : DSD 2010 : Lille, France, 1-3 September 2010 : proceedings2010 / p. 658-663 : ill

artikkel kogumikus
611

artikkel ajakirjas

Success story of the Computer Engineering Department at the Tallinn University of Technology in EU projectsUbar, Raimund-Johannes; Kruus, MargusThe parliament magazine : European politics and policy2006 / p. 33 : ill

artikkel ajakirjas
612

artikkel ajalehes

Suure eksperimendi ootelUbar, Raimund-JohannesTehnikaülikool1998 / 19. jaan., lk. 1, 3 https://www.ester.ee/record=b5309277*est

artikkel ajalehes
613

artikkel ajalehes

Sünergiline teaduskeskus : Integreeritud elektroonikasüsteemide ja biomeditsiinitehnika tippkeskus CEBEUbar, Raimund-JohannesMente et Manu2011 / lk. 2, 5 : portr https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes
614

artikkel kogumikus

Sünkroonsete järjestiklülituste testide deduktiivse analüüsi meetodEvartson, Teet; Ubar, Raimund-JohannesXXIX vabariiklik üliõpilaste teaduslik- tehniline konverents 30. märtsist - 1. aprillini 1977 : ettekannete teesid1977 / lk. 42 https://www.ester.ee/record=b2449987*est

artikkel kogumikus
615

artikkel kogumikus

Synthesis of decision diagrams from clock-driven multi-process VHDL descriptions for test generationLeveugle, R.; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 5th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Lodz, Poland, June 18-20, 19981998 / p. 353-358

artikkel kogumikus
616

artikkel ajakirjas

Synthesis of decision diagrams from clock-driven multi-process VHDL descriptions for test generationLeveugle, R.; Ubar, Raimund-JohannesElectron technology1999 / 3, p. 282-287 : ill

artikkel ajakirjas
617

artikkel kogumikus

Synthesis of high-level decision diagrams for functional test pattern generationUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Karputkin, Anton; Tombak, MatiProceedings of the 16th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2009 : Lodz, Poland, 25-27 June, 20092009 / p. 519-524 : ill

artikkel kogumikus
618

artikkel kogumikus

Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, Jaan2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) : 26-28 March 2013, Abu Dhabi, UAE2013 / p. 36-41 : ill [CD-ROM]

artikkel kogumikus
619

dissertatsioon

System modeling for processor-centric test automation = Süsteemide modelleerimine protsessorikesksete testprogrammide sünteesi automatiseerimiseksTšertov, Anton2012 https://www.ester.ee/record=b2751131*est

dissertatsioon
620

artikkel kogumikus

Targeting conditional operations in sequential test pattern generationRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes9th European Test Symposium : ETS'04 : Congress Center, Ajaccio, Corsica, France, May 23-26, 20042004 / p. 17-18 : ill

artikkel kogumikus
621

artikkel kogumikus

Teaching advanced test issues in digital electronicsUbar, Raimund-Johannes; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic2005 / p. S2B-1 - S2B-6 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318

artikkel kogumikus
622

artikkel kogumikus

Teaching dependability issues in system engineering at the Technical University of TallinnUbar, Raimund-Johannes90th Anniversary Jubilee Seminar on Engineering Education, University of Wismar, Germany, May 6-8, 1998 : preprints of proceedings1998 / p. 1-5 (invited paper)

artikkel kogumikus
623

artikkel ajakirjas

Teaching dependability issues in systems engineering at the Technical University of TallinnUbar, Raimund-JohannesGlobal journal of engineering education1998 / 2, p. 215-218

artikkel ajakirjas
624

artikkel kogumikus

Teaching diagnostic modeling of digital systems with decision diagrams [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Mironov, Dmitri; Evartson, Teet; Orasson, Elmet; Aarna, Margit; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of 12th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education - CATE 2009 : St.Thomas, US, November 22-24, 20092009 / p. 1-6. [CD-ROM]

artikkel kogumikus
625

artikkel kogumikus

Teaching digital RT-level self-test using a Java appletDevadze, Sergei; Jutman, Artur; Sudnitsõn, Aleksander; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich20th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 11-12, 20022002 / p. 322-328 : ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 831, kuvan 601 - 625

eelmine
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
järgmine

1. Ubar, Raimund-Johannes 1941
2. Räämet, Raimund 1918-2004
3. Aare, Johannes 1915-2000
4. Aavik, Eduard-Johannes
5. Ahrenschild, Johannes (-1936)
6. Alaots, Johannes
7. Aljak, Arnold Johannes
8. Allik, Erich-Johannes
9. Avik, Eduard Johannes 1891-1942
10. Drechsler, Wolfgang Johannes Max
11. Ehala, Johannes 1986
12. Hint, Johannes 1914-1985
13. Johannes, Ille 1939
14. Johannson, Johannes
15. Johanson, Johannes
16. Juhans, Johannes 1874-1956
17. Kajander, Aleksi Oskar Johannes 1994
18. Kiiwet, Johannes
19. Kiivet, Johannes 1879-1967
20. Kivit, Johannes
21. Kollist, Johannes 1884-1937
22. Kollist, Johannes Theodor
23. Korv, August Johannes 1911-1981
24. Krimmer, Robert Johannes
25. Käpp, Martin Johannes
26. Langel, Johannes 1900-1985
27. Langell, Johannes
28. Livländer, Robert Johannes
29. Lutsar, Richard-Johannes
30. Madise, Johannes 1920-?
31. Maltenek, Evald Leonhard Johannes
32. Matsulevitš, Johannes
33. Meitre, Johannes 1906-1978
34. Messer, Johannes
35. Muru, Johannes 1995
36. Mäll, Johannes 1911-1981
37. Mühlman, Johannes
38. Mühlmann, Johannes 1888-1936
39. Notermans, Antonius Johannes Hubertus 1959
40. Nuudi, Johannes 1895-1975
41. Palo, Johannes 1925-1960
42. Pals, Johannes 1903-1941
43. Pello, Johannes 1958
44. Pervik, Johannes 1892-1958
45. Presmann, Johannes 1942
46. Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
47. Püümann, Mait Johannes
48. Renter, Olav-Johannes
49. Roes, Johannes 1914
50. Russwurm, Johannes
51. Russvurm, Johannes 1855-1939
52. Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
53. Sakeus, Johannes 1880-1934
54. Taimsalu, Johannes 1891-1942
55. Teiman, Johannes
56. Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
57. Tomson, Johannes
58. Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
59. Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
60. Verus, Johannes Voldemar
61. Vuhk, Oskar Johannes

1. Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2. Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3. Räämet, Raimund, 1918-2004
4. Aare, Johannes, 1915-2000
5. Aavik, Johannes, 1880-1973
6. Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7. Bender, Naatan Johannes
8. Erm, Johannes, 1998-
9. Granö, Johannes Gabriel
10. Hint, Johannes, 1914-1985
11. Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12. Kert, Johannes
13. Kiivet, Johannes, 1879-1967
14. Kollist, Johannes
15. Käis, Johannes
16. Lang, Johannes
17. Maide, Johannes Voldemar
18. Mossov, Johannes
19. Pals, Johannes, 1903-1941
20. Pello, Johannes
21. Putk, Aksel-Johannes
22. Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23. Steinbrunn, Johannes
24. Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25. Talu, Martin Johannes
26. Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27. Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28. Voll, Johannes

1. Johannes Mittus, vasevalamise tööstus

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu